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Foto del producto: Microscopio electrónico de barrido “SUPERSCAN SS-4000”

• *La foto incluye opciones.

Shimadzu Corporation lanzó dos modelos del microscopio electrónico de barrido “SUPERSCAN SS-4000” en Japón. Tras la firma de una alianza comercial con TESCAN GROUP, as, de la República Checa, fabricante líder de microscopios electrónicos de barrido (en adelante, “SEM”), este es el primer lanzamiento de la marca conjunta “Shimadzu by TESCAN”. Esta serie está optimizada para la observación a baja aceleración y bajo vacío, lo que reduce eficazmente el pretratamiento de las muestras. Este instrumento resuelve problemas operativos para los usuarios de SEM, como la observación de áreas extensas sin distorsión, el ajuste automático del haz en tiempo real, etc. Shimadzu proporciona software y manuales en japonés, y ofrece soporte completo desde la instalación, la inspección, las reparaciones y otros servicios posventa.

Los microscopios electrónicos de barrido (MEB) permiten la observación de superficies a escala nanométrica y son instrumentos esenciales para la investigación científica y tecnológica. Debido al principio de irradiar una muestra con un haz de electrones y detectar los electrones secundarios y retrodispersados generados a partir de ella para observar las diferencias en la morfología y composición de la superficie, resulta difícil observar muestras que se cargan fácilmente (muestras no conductoras). Sin embargo, el SUPERSCAN SS-4000 permite la observación a bajas aceleraciones, lo que reduce la carga, lo que permite obtener imágenes con una resolución y un contraste óptimos para muestras no conductoras, como cerámicas y plásticos. Además, las desviaciones en el brillo, el enfoque y la posición del centro de observación de la imagen causadas por cambios en las características del haz debido a variaciones de voltaje y corriente durante la observación de la muestra se ajustan automáticamente, lo que contribuye a una mayor eficiencia del trabajo. Esta serie es escalable para soportar alrededor de 20 tipos de opciones de análisis, como análisis de elementos, difracción de retrodispersión de electrones, análisis de compuestos y análisis de especiación, y logra una alta operatividad con el software dedicado "Essense". Shimadzu Corporation proporcionará soluciones de alto valor agregado para diversas investigaciones y desarrollos a través de la marca conjunta "Shimadzu by TESCAN" con TESCAN.

Funciones

1. Observación de ultraalta resolución mediante tecnología BrightBeam

Gracias a un sistema óptico con tecnología patentada BrightBeam, que proporciona una alta convergencia del haz en condiciones de baja aceleración, es posible observar detalles minuciosos de materiales no conductores y sensibles al haz, sin necesidad de pretratar la muestra. Además, el flujo de trabajo de análisis se puede simplificar mediante el trazado de haz en vuelo, que ajusta automáticamente las desviaciones en el brillo y el enfoque de la imagen debido a cambios de voltaje y corriente, controlando el sistema óptico mediante software.

2. Imágenes nítidas con bajo vacío

Se requieren condiciones de bajo vacío para la observación de muestras no conductoras a fin de evitar fenómenos de carga electrostática. Este producto admite un bajo vacío en el rango de 7 a 500 Pa. Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) convencionales utilizan nitrógeno gaseoso en condiciones de bajo vacío. Sin embargo, este producto cuenta con un sistema de detección único que utiliza una atmósfera de vapor de agua y una alta amplificación de señal, lo que lo hace eficaz para la observación de alta sensibilidad de muestras biológicas en bajo vacío.

3. Abundantes opciones de análisis y alta operatividad

Se admiten alrededor de 20 tipos de opciones de análisis, como análisis de elementos, difracción de retrodispersión electrónica, análisis de compuestos y análisis de especiación. Además, el sistema integrado con el software dedicado "ESSENCE" para análisis de elementos, entre otros, ofrece una gran facilidad de uso.

• * BrightBeam, In Flight Beam Tracing y ESSENCE son marcas registradas de TESCAN GROUP, como
• * Partes de las funciones 2 y 3 son funcionalidades solo para el modelo de muestra grande.