28 de marzo de 2025 | Noticias y avisos
Un nuevo instrumento para el análisis espectroscópico infrarrojo cuántico de muestras con topografías superficiales rugosas
Resultados de una investigación conjunta con la Universidad de Kioto publicados en la revista internacionalmente reconocida Physical Review Applied
Un grupo de investigación de la Escuela de Posgrado de Ingeniería de la Universidad de Kioto y Shimadzu Corporation ha prensado con éxito muestras de superficie rugosa contra la superficie de un prisma para su análisis mediante espectroscopia infrarroja cuántica de reflectancia total *. Esta técnica permite analizar diversas muestras de forma sencilla, incluyendo muestras con topografías superficiales rugosas que antes presentaban dificultades. Se espera que esto conduzca al desarrollo de dispositivos compactos de espectrometría infrarroja cuántica para una amplia gama de aplicaciones, como la monitorización ambiental en exteriores y la seguridad. Los resultados de esta investigación se publicaron en línea el 28 de enero de 2025 en la revista estadounidense Physical Review Applied, de renombre internacional.
Representación artística de la espectroscopia infrarroja cuántica de reflectancia total
Información sobre el artículo publicado
| Título | ： | Espectroscopia de reflexión total atenuada por infrarrojos cuánticos (Espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier cuántica de reflectancia total atenuada) |
| Autores | ： | Torataro Kurita (Universidad de Kyoto), Yu Mukai (Universidad de Kyoto), Ryo Okamoto (Universidad de Kyoto), Masaya Arahata (Universidad de Kyoto), Toshiyuki Tashima (Universidad de Kyoto), Hiroshi Ota (Shimadzu Corporation), Katsuhiko Tokuda (Shimadzu Corporation) y Shigeki Takeuchi (Universidad de Kyoto) |
| Journal | ： | Revisión física aplicada |
- * También denominada reflexión total atenuada (ATR), esta técnica de muestreo coloca las muestras en contacto con un prisma de alto índice de refracción para utilizar la luz reflejada desde el límite entre la muestra y el prisma y evaluar sus propiedades ópticas. La luz infrarroja penetra la muestra varios micrómetros o menos antes de reflejarse, y se utiliza para analizar las propiedades ópticas de las regiones microscópicas cercanas al límite reflectante entre el prisma y la muestra. Si las muestras fácilmente deformables o con topografías superficiales rugosas se pueden colocar en contacto con el prisma, esta técnica de muestreo puede reducir la distorsión del frente de onda y la dispersión de la luz durante el análisis.
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