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Foto do produto: Microscópio eletrônico de varredura “SUPERSCAN SS-4000”

• * A foto inclui opções.

Shimadzu Corporation lançou dois modelos do microscópio eletrônico de varredura “SUPERSCAN SS-4000” no Japão. Após concluir uma parceria comercial com o TESCAN GROUP, como, da República Tcheca (Czechia), um fabricante líder de microscópios eletrônicos de varredura (doravante, “SEM”), este é o primeiro lançamento da marca conjunta “Shimadzu by TESCAN.” Esta série é otimizada para observação de baixa aceleração e baixo vácuo, o que é eficaz para reduzir o pré-tratamento de amostras. É um instrumento que resolve problemas relacionados à operação para usuários de SEM, como observação de área ampla sem distorção, ajuste automático do feixe em tempo real, etc. Shimadzu fornece software e manuais em japonês e fornece suporte total de instalação, inspeção, reparos e outros serviços de pós-venda.

Os SEMs permitem a observação de superfícies em nanoescala e são instrumentos essenciais para pesquisa em ciência e tecnologia. Devido ao princípio de irradiar uma amostra com um feixe de elétrons e detectar elétrons secundários e elétrons retroespalhados gerados a partir da amostra para observar diferenças na morfologia e composição da superfície, é difícil observar amostras que são facilmente carregadas (amostras não condutoras). No entanto, o SUPERSCAN SS-4000 permite a observação em baixas acelerações que reduzem a carga, permitindo a aquisição de imagens com resolução e contraste ideais para amostras não condutoras, como cerâmicas e plásticos. Além disso, desvios no brilho da imagem, foco e posição do centro de observação causados por mudanças nas características do feixe devido a mudanças na voltagem e corrente durante a observação da amostra são ajustados automaticamente, contribuindo para melhorar a eficiência do trabalho. Esta série é escalável para oferecer suporte a cerca de 20 tipos de opções de análise, como análise de elementos, difração de retroespalhamento de elétrons, análise de compostos e análise de especiação, e atinge alta operabilidade com o software dedicado "Essense". A Shimadzu Corporation fornecerá soluções de alto valor agregado para várias pesquisas e desenvolvimento por meio da marca conjunta "Shimadzu by TESCAN" com a TESCAN.

Características

1. Observação de ultra-alta resolução usando a tecnologia BrightBeam

Ao usar um sistema óptico com tecnologia proprietária BrightBeam que fornece alta convergência de feixe sob condições de baixa aceleração, é possível observar detalhes minuciosos de materiais não condutores e materiais que são sensíveis ao feixe, sem pré-tratamento de amostra. Além disso, o fluxo de trabalho de análise pode ser reduzido pelo In Flight Beam Tracing, que ajusta automaticamente os desvios no brilho e foco da imagem devido a mudanças na voltagem e corrente, pelo controle do sistema óptico com software.

2. Imagens nítidas com vácuo baixo

Condições de baixo vácuo são necessárias para observação de amostras não condutoras para evitar fenômenos de carga causados por carga eletrostática. Este produto pode suportar baixo vácuo na faixa de 7 a 500 Pa. SEMs normais usam gás nitrogênio em baixo vácuo. No entanto, este produto tem um sistema de detecção exclusivo usando uma atmosfera de vapor de água e uma alta amplificação de sinal, por isso é eficaz para observação de alta sensibilidade de amostras biológicas em baixo vácuo.

3. Muitas opções de análise e alta operabilidade

Cerca de 20 tipos de opções de análise são suportados, como análise de elementos, difração de elétrons retroespalhados, análise de compostos e análise de especiação. Além disso, alta usabilidade é realizada pelo sistema integrado com o software dedicado “ESSENCE” para análise de elementos, etc.

• * BrightBeam, In Flight Beam Tracing e ESSENCE são marcas registradas do TESCAN GROUP, assim como
• * Partes dos recursos 2 e 3 são funcionalidades apenas para o modelo de amostra grande.