28 de março de 2025 | Notícias e Avisos
Um novo instrumento para análise espectroscópica quântica de infravermelho de amostras com topografias de superfície rugosas
Resultados de pesquisa conjunta com a Universidade de Kyoto publicados no periódico reconhecido internacionalmente Physical Review Applied
Um grupo de pesquisa da Escola de Pós-Graduação em Engenharia da Universidade de Kyoto e Shimadzu Corporation pressionaram com sucesso amostras de superfície áspera contra uma superfície de prisma para permitir sua análise por espectroscopia infravermelha quântica de refletância total *. Esta técnica pode ser usada para analisar uma variedade de amostras de forma simples e fácil, incluindo amostras com topografias de superfície áspera que apresentaram dificuldades no passado. Espera-se que isso leve ao desenvolvimento de dispositivos espectrométricos infravermelhos quânticos compactos para uma ampla gama de aplicações, como monitoramento ambiental externo e aplicações de segurança. Os resultados desta pesquisa foram publicados on-line em 28 de janeiro de 2025, no periódico americano reconhecido internacionalmente Physical Review Applied.
Representação artística da espectroscopia quântica de infravermelho de refletância total
Informações sobre o artigo publicado
| Título | ： | Espectroscopia de reflexão total atenuada no infravermelho quântico (Espectroscopia infravermelha quântica de transformada de Fourier com refletância total atenuada) |
| Autores | ： | Torataro Kurita (Universidade de Kyoto), Yu Mukai (Universidade de Kyoto), Ryo Okamoto (Universidade de Kyoto), Masaya Arahata (Universidade de Kyoto), Toshiyuki Tashima (Universidade de Kyoto), Hiroshi Ota (Shimadzu Corporation), Katsuhiko Tokuda (Shimadzu Corporation) e Shigeki Takeuchi (Universidade de Kyoto) |
| Journal | ： | Revisão Física Aplicada |
- * Também chamada de reflexão total atenuada (ATR), essa técnica de amostragem coloca amostras em contato com um prisma de alto índice de refração para usar a luz refletida do limite amostra-prisma para avaliar as propriedades ópticas da amostra. A luz infravermelha penetra na amostra por vários micrômetros ou menos antes de ser refletida, então é usada para analisar as propriedades ópticas de regiões microscópicas próximas ao limite reflexivo entre o prisma e a amostra. Se amostras facilmente deformadas ou amostras com topografias de superfície ásperas puderem ser colocadas em contato com o prisma, essa técnica de amostragem pode reduzir a distorção da frente de onda e a dispersão de luz durante a análise.
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