2025 年 3 月 28 日| 新闻与通知
一种用于粗糙表面形貌样品的量子红外光谱分析新仪器
与京都大学的联合研究成果在国际权威期刊《Physical Review Applied》上发表
京都大学工学部和岛津制作所的研究小组成功地将表面粗糙的样品压在棱镜表面上，从而能够通过全反射*量子红外光谱法进行分析。该技术可以简单轻松地分析各种样品，包括过去难以分析的表面粗糙样品。这有望推动开发紧凑型量子红外光谱仪，用于户外环境监测和安全应用等广泛应用。这项研究的结果于2025年1月28日在线发表在国际公认的美国期刊《物理评论应用》上。
全反射量子红外光谱的艺术家演绎
已发表论文信息
| 标题 | ： | 量子红外衰减全反射光谱 （衰减全反射量子傅里叶变换红外光谱法） |
| 作者 | ： | Torataro Kurita（京都大学）、Yu Mukai（京都大学）、Ryo Okamoto（京都大学）、Masaya Arahata（京都大学）、Toshiyuki Tashima（京都大学）、Hiroshi Ota（岛津制作所）、Katsuhiko Tokuda（岛津制作所）和 Shigeki Takeuchi（京都大学） |
| Journal | ： | 物理评论应用 |
- * 也被称为衰减全反射 (ATR)，这种采样技术将样品与高折射率棱镜接触，以利用从样品棱镜边界反射的光来评估样品的光学特性。红外光在反射之前穿透样品几微米或更短，然后用于分析棱镜和样品之间反射边界附近微观区域的光学特性。如果可以将容易变形的样品或表面粗糙的样品与棱镜接触，这种采样技术可以减少分析过程中的波前畸变和光散射。
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